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eVision  EasySpotDetector 2

Rilevatore di punti facili

Ispezione avanzata delle superfici per i settori delle batterie, della carta, delle pellicole o del vetro

- Rilevamento di difetti e contaminazioni lievi, anche in immagini rumorose
- Elaborazione veloce per ispezioni in linea
- Compatibile con l'acquisizione da telecamere lineari e 2D
- Preallineamento opzionale dell'area di interesse sui bordi dei pezzi
- Classificazione opzionale dei difetti tramite Deep Learning
- API C++, C# e Python semplici e complete

Descrizione

EasySpotDetector utilizza la segmentazione locale per estrarre gli oggetti salienti dallo sfondo. È applicabile a molti materiali come pellicole, superfici rivestite, acciaio, fogli di batterie, vetro, ecc. Parametri specifici consentono di selezionare l'aspetto e le dimensioni del difetto, nonché la sensibilità del rilevamento. La segmentazione è robusta al rumore e non richiede addestramento contestuale o calibrazione.

Elaborazione in tempo reale per l'ispezione superficiale in linea 

Con il suo approccio in due fasi, EasySpotDetector è più veloce rispetto ad altri processi di segmentazione degli oggetti basati sul Deep Learning. EasySpotDetector è in grado di elaborare fino a 200 MPixel al secondo su un computer Intel i7-10850H (solo rilevamento). La classificazione può trarre vantaggio dal funzionamento della GPU, ma è anche ottimizzata per funzionare sulla CPU grazie a OpenVINO.

EasySpotDetector Parameters to control segmentation

Insieme di parametri per controllare la segmentazione dei difetti

Una serie di parametri espliciti consente all'utente di individuare difetti specifici. È possibile regolare il tipo (particella, graffio...), l'aspetto (più chiaro, più scuro o entrambi), la dimensione e il contrasto minimo (difetto forte o debole) dei difetti.

EasySpotDetector Simple API

API semplice e completa

EasySpotDetector fornisce un'unica API per l'allineamento della regione di interesse (ROI), il rilevamento dei difetti sulle superfici e la classificazione con un classificatore Deep Learning personalizzato.

EasySpotDetector Custom trained Deep Learning object classifier

Classificatore di oggetti con deep learning personalizzato

Gli oggetti rilevati possono essere sottoposti a un classificatore di deep learning. Il classificatore viene addestrato dall'utente, specificamente per la sua particolare applicazione, utilizzando il Deep Learning Studio di facile utilizzo. I possibili utilizzi del classificatore sono: 

  • Confermare o invalidare i candidati rilevati.
  • Valutare il livello di gravità dei difetti.
  • Dividere gli oggetti rilevati in diverse classi in base al loro aspetto.
EasySpotDetector Tested on various use cases

Testato su vari casi d'uso

EasySpotDetector è stato testato con successo su diverse applicazioni di ispezione delle superfici, tra cui: fogli per batterie, tessuti, acciaio, componenti elettronici passivi e materiali naturali, ad esempio pelle e legno.

Illustrazioni EasySpotDetector

New Open eVision Studio

È possibile progettare sequenze complesse di elaborazione delle immagini utilizzando un'interfaccia grafica. La raccolta di strumenti rappresenta la diversità e le capacità delle librerie Open eVision. Il codice sorgente C++, Python e C#, corrispondente alla pipeline di elaborazione, viene generato automaticamente e fornisce una documentazione interattiva dell'API Open eVision. Il New Open eVision Studio è in grado di elaborare sorgenti di immagini live come una telecamera GigE Vision, un frame grabber Coaxlink o sequenze di registrazioni eGrabber.

Questa applicazione è gratuita, funziona su Windows, Linux ed è compatibile con le architetture Intel e ARM a 64 bit.

eVision Studio2 AVT.png
eVision Studio2 AVT.png

Software

Host PC Operating System

Supported operating systems:

Microsoft Windows 11, 10 for x86-64 (64-bit) processor architecture

Microsoft Windows 11, 10 IoT Enterprise for x86-64 systems

Linux for x86-64 (64-bit) and ARMv8-A (64-bit) processor architectures with a glibc version greater or equal to 2.18

Minimum requirements:

8 GB RAM

Optional NVidia GPU

APIs

Supported programming languages :

The Open eVision libraries and tools support C++, Python and the programming languages compatible with the .NET (C#, VB.NET)

C++ requirements: A compiler compatible with the C++ 11 standard is required to use Open eVision

Python requirements: Python 3.11 or later is required to use the Python bindings for Open eVision

.NET requirements: .NET framework 4.8 (or later) or the .NET platform 6.0 (or later) are supported

Supported Integrated Development Environments:

Microsoft Visual Studio 2017 (C++, C#, VB .NET, C++/CLI)

Microsoft Visual Studio 2019 (C++, C#, VB .NET, C++/CLI)

Microsoft Visual Studio 2022 (C++, C#, VB .NET, C++/CLI)

QtCreator 4.15 with Qt 5.12


Input

Image source:

Any 8-bit grey scale image, no size limit

Region of interest:

Explicit or automatic selection of the region of interest (an oriented rectangle is fitted to the part’s edges)

Output

A list of detected spots with their type (particle or scratch), position and size, strength, and pixel level segmentation map

Optionally, if a deep learning classifier is loaded, a class and a probability is set for each spot. The deep learning classifier is a trained EasyClassify tool.

Display functions are provided to draw the spot bounding boxes and segmented pixel

Performance

Processing speed on single core Intel i7-10850H:

Particle detection only: 200 MPixels/s

Particle and scratch: 60 MPixels/s

Requirements

Minimum defect size:

2x2 pixels

No maximum defect size

Ordering Information

Product status

Released

Product code - Description

PC4190 Open EasySpotDetector for USB dongle

PC4340 Open eVision EasySpotDetector

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