실리콘을 통해 보세요.
눈에 보이지 않는 결함을 더 빨리 발견하세요.
가시광선은 반도체 검사에서 사각지대를 남깁니다. 단파장 적외선은 이러한 사각지대를 해소하여 라인 전반의 표면 결함, 재료 차이, 정렬 특징을 드러냅니다. 키사이트의 엔드투엔드 SWIR 포트폴리오는 실험실부터 라인 내 AOI까지 통합되어 문제를 조기에 발견하고 수율을 보호하며 안심하고 출하할 수 있도록 도와줍니다.
소니의 SWIR 카메라 포트폴리오 살펴보기반도체 생산 및 검사 분야의 적용 사례
베어 웨이퍼 단계부터 최종 납품에 이르기까지, 모든 단계에서 육안 검사는 필수적입니다. 고해상도 이미징과 맞춤형 조명이 결정적인 차이를 만들어내는 대표적인 적용 분야는 다음과 같습니다.
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왜 SWIR인가?
더 많이 보고, 더 많은 성과를 거두세요.
적외선은 전자기 스펙트럼상에서 가시광선과 마이크로파 사이에 위치하며, 단파장 적외선(SWIR)은 0.9~2.5μm의 파장 범위를 포함합니다. SWIR 복사는 육안으로는 볼 수 없지만 가시광선과 마찬가지로 물체와 상호작용하므로, 카메라가 다양한 물질을 투과하여 까다로운 환경 속에서도 "볼" 수 있게 해줍니다.
인듐 갈륨 비소(InGaAs) 기반 센서는 SWIR 대역의 빛을 감지하는 데 널리 사용됩니다. 이를 통해 다음과 같은 이점을 얻을 수 있습니다:
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SWIR 카메라 포트폴리오
Allied Vision은 에어리어 스캔 및 라인 스캔 SWIR 센서를 지원하는, 시장에서 가장 포괄적인 SWIR 카메라 제품군을 제공합니다. 단일 보드 레벨 옵션부터 컴팩트한 폼 팩터를 갖춘 하우징 모델, 강력한 센서 냉각 기능과 최대 2.2µm의 감도를 자랑하는 과학용 등급 솔루션까지 다양하게 선택하실 수 있습니다.
카메라 시리즈를 클릭하여 자세한 내용을 확인해 보세요!
일반적인 애플리케이션을 위한 머신 비전 소프트웨어 라이브러리
eVision은 머신 비전 검사 애플리케이션을 위한 하드웨어 독립형 이미지 처리 및 분석 라이브러리 세트입니다. 당사의 머신 비전 소프트웨어는 프레임 그래버, GigE Vision, USB3 Vision 카메라를 포함한 모든 이미지 소스와 호환됩니다. 이 범용 라이브러리는 다음과 같은 SWIR 애플리케이션을 지원합니다:
매칭 및 측정
- EasyFind: 기하학적 패턴 매칭
- EasyGauge: 서브픽셀 측정 및 치수 제어
- EasyMatch: 정규화 상관 관계를 이용한 패턴 매칭
- EasySpotDetector: 미세 결함 및 오염 감지
딥 러닝 라이브러리
- EasySegment: 결함 탐지 및 분할
- EasyLocate: 이미지 내 물체, 제품 또는 결함의 위치 파악 및 식별
- EasyClassify: 학습/훈련 과정 후 이미지 분류
지원 받기
반도체 산업의 SWIR 이미징 검사 애플리케이션을 위해 단일 부품이든 종합 솔루션이든, 저희 팀이 고객님께 가장 적합한 솔루션을 찾으실 수 있도록 도와드리겠습니다.
