高精度相機用於雷射光束輪廓測量與分析

輕鬆分析、理解並完善您的雷射設備

運用工業相機測量與分析雷射光束，實現精準輪廓測量。優化雷射應用的性能、穩定性與品質。

挑戰與趨勢

雷射涵蓋紫外線、可見光、近紅外及短波紅外波段，各波段皆需專業的測量技術。精準測量所有波長極具挑戰性，因細微差異便可能導致光束輪廓測量結果不完整或不精確。

雷射強度與分布存在顯著差異。要獲得可靠且可重複的輪廓圖，同時不遺漏細微變化，實屬不易，此舉可能危及製程控制、品質或研究成果。

將光束輪廓分析整合至現有系統相當棘手。不一致的介面、設置延遲與測量偽影，使得實現平滑且可重複的結果始終面臨挑戰。

為使源信號以最低損耗輸入光纖，雷射器的耦合效率需進行持續監測。

優化雷射光束的形狀與尺寸，將直接影響金屬、聚合物、陶瓷及複合材料的切割品質、邊緣平滑度與加工速度。

在雷射測距系統與自動駕駛車輛中，精確的光束特性分析確保了距離測量與物體偵測的準確性，從而實現安全導航與碰撞避讓功能。

短波紅外波長能更深入穿透軟組織，同時減少散射與自發螢光。確保正確波長對精準手術至關重要。

Goldeye G-008 SWIR TEC1 配備 320 × 256 像素 FPA | 30 微米 | InGaAs 感測器，在 0.1 百萬畫素解析度下可達每秒 344 幀。

Goldeye G-130 VSWIR TEC1 搭載 Sony IMX990 | InGaAs 感測器，於 130 萬畫素解析度下可達每秒 94 幀運作速度。

Alvium 1800 U-030 VSWIR 搭載 Sony IMX991 | InGaAs 感測器，於 0.3 百萬畫素解析度下可達每秒 249 幀。

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