アプリケーション // 電子機器、FPD及び半導体 // レーザービームプロファイリング
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高精度カメラによるレーザービームプロファイリングと解析

レーザーを分析し、理解し、簡単に完璧に

産業用カメラでレーザービームを測定・分析し、精密なプロファイリングを実現します。レーザーアプリケーションにおける性能、安定性、品質を最適化します。

課題と動向

Service 04

あらゆるレーザー波長を捉え、細部まで逃さない

レーザーは紫外線、可視光、近赤外線、SWIRの波長域に及び、それぞれ専用の測定技術が求められる。全波長域にわたる正確な測定は困難であり、わずかな差異が不完全または不正確なビームプロファイルを引き起こす可能性がある。

Innovations Ideas 01

あらゆる強度における真のビーム形状の解明

レーザーの強度と分布は大きく変動する。微妙な変動を見逃さずに信頼性が高く再現性のあるプロファイルを取得することは困難であり、プロセス制御、品質、あるいは研究成果が損なわれるリスクがある。

Modules 10

複雑なワークフローへのレーザープロファイリングのシームレスな統合

ビームプロファイリングを既存システムに組み込むのは難しい。不整合なインターフェース、セットアップ遅延、測定アーティファクトが、滑らかで再現性のある結果を得ることを常に困難にしている。

技術要件

  • 赤外線感度により、所定の波長でレーザービームを正確に捕捉・測定。
  • ビーム幅、形状、強度分布の特性評価を向上させる高解像度SWIRカメラ。
  • プロファイリング対象レーザーのビーム径に対応可能な適切なセンサーサイズ。
  • 飽和や感度低下なく低強度・高強度レーザービームを処理する広いダイナミックレンジ。
  • レーザービーム解析の信頼性を確保するための高い直線性。
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