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适用于半导体检测的相机

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每一项应用都有其独特的需求。我们熟谙如何针对不同应用场景寻找更适合的相机解决方案。

 

随着技术不断进步,人们对半导体电子元器件制造加工和检测系统的需求日益增加。日益小型化的结构以及对更高产量和质量的需求,进而导致我们在分辨率、帧率和功能等方面衍生了更多的需求。

 

这类苛刻应用要求在制造过程中多阶段进行机器检测,如零件筛选和组装,直至完成单个元件的最终验证跟踪。许多此类生产步骤、过程控制和质量检查需要借助机器视觉实现。

 

选择相机时,需要考虑以下相关因素:

  • 高分辨率图像,用于检测极其细微的缺陷,或精密检测极其细微的零件,如PCB或显示器缺陷检测(Mura),晶圆表面裂纹、划痕、凹痕和变色波纹检测
  • 高带宽,用于需要高分辨率成像和高传输速度的苛刻检测应用
  • 包含丰富传感器组合的广泛平台
  • 精密的主动传感器对准,以测量冲压元件的尺寸、形状和位置
  • 广泛的分辨率,以控制电子组件中IC和键定位和朝向
  • 使用基于以太网的协议(1/5GigE)轻松处理产品标识,如矩阵代码和批号等
  • 针对复杂的检测任务,相机类型可扩展至非可见光波长范围(例如短波红外线、紫外线

短交货期

Alvium 相机基于同一平台,并提供6种接口以满足不同的需求。Alvium平台提供了丰富的高画质图像传感器选择,感光度范围包括可见光、近红外、短波红外以及紫外,同时提供各种镜头接口、外壳选项,共有200多款不同配置机型供选,极大地丰富和扩展了该系列的灵活性和可扩展性。

此平台可根据全方位的需求量身定制。无论是小型变动抑或是大规模变革升级 – Alvium始终是您的理想之选。我们经验丰富的技术专家期待与您一道打造专属的个性化OEM相机解决方案。

Alvium相机可以快速交货。

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