案例研究 - Allied Vision

先進視覺技術實現高效晶圓檢測

採用高速線掃描相機與優化照明技術，實現宏觀缺陷的可靠檢測

Allied Vision - Wafer Inspection Casestudy

創新視覺系統，專為印刷檢測與色彩測量而生

可靠缺陷檢測的客製化解決方案

Allied Vision - Print Inspection Casestudy