allPIXA SWIR
短波紅外線線掃描相機
這款高性能短波紅外線（SWIR）線掃描相機，為需在短波紅外線光譜範圍內進行材料分析的機器視覺應用提供卓越成像能力。此類應用涵蓋食品與回收產業的光學分選，以及半導體檢測領域。透過先進的砷化銦鎵（InGaAs）感測器技術，其提供950至1,700奈米的寬廣光譜範圍，實現超越可見光範圍的成像能力。
看見無形之物，即時呈現
受益於快速線掃描速率與高靈敏度
- 線掃描InGaAs感測器，具備512像素（像素尺寸25微米×25微米）或1024像素（像素尺寸12.5微米×12.5微米）解析度
- 短波紅外光譜範圍：950 至 1700 奈米
- 高速性能：最高達40千赫線速率
為您的視野而生
若您有以下需求，allPIXA SWIR 將是您的理想選擇：
- 您的應用需要高解析度、高靈敏度的成像技術來分析不可見物質。
- 您需要具備高達 40 kHz 線速的高速性能與靈活像素尺寸，以應對嚴苛檢測任務。
- 您期望透過符合 GenICam 標準的 GigE Vision 介面，輕鬆整合至現有機器視覺系統，並支援主流擷取卡與 SDK。
- 您重視直覺化軟體工具、內建校正功能、測試影像生成及可調式觸發選項所提供的無縫設定與操作體驗。
// 福利一覽
allPIXA SWIR 是一款配備尖端 InGaAs 感測器的線掃描相機，具備 512 或 1k 解析度。
- 增強靈敏度：水平像素合併技術，提升嚴苛低照度應用中的感光效能
- 靈活影像深度：支援每像素 8、10 或 12 位元輸出，滿足應用需求
- 進階影像處理：內建FPGA搭載DSNU、PRNU與TRC LUT或伽瑪校正，實現最佳化影像品質
- 無縫整合：符合GigE Vision標準，經主流擷取卡、GenICam SDK及Allied Vision免費軟體工具測試驗證
// 功能
- 水平像素合併以提升靈敏度
- 每像素8、10或12位元
- 內建 DSNU、PRNU 與 TRC 查找表或伽瑪校正
- 外部行觸發頻率轉換器
- 經多款主流網路介面卡及GenICam SDK測試驗證
// 典型應用
短波紅外光譜揭示了多種可見光無法偵測的特徵與物質特性，為RGB影像之外增添了寶貴資訊。此技術對於特殊檢測任務極具價值，能偵測人眼無法察覺的缺陷與故障，例如應用於半導體品質檢測、不透明容器內容物檢查、種子與食品分選、物質與濕度檢測或檢測、（安全）印刷品檢測，以及塗層與表面控制等領域。